Система для изучения спектров фоточувствительности полупроводниковых материалов и структур

 

Система для изучения спектров фоточувствительности полупроводниковых материалов и структур: 

 

Назначение:

  • экспериментальное изучение спектров фототока, фотоЭДС и фотопроводимости полупроводников и полупроводниковых структур.

Технические характеристики:

  • основана на монохроматоре исследовательского класса МДР23;

  • спектральный диапазон: от 400 до 2000 нм;

  • регулируемое спектральное разрешение (ширина раскрытия щелей от 0 до 2,2 мм, обратная линейная дисперсия 1,3 нм/мм для решетки 1200 штр./мм);

  • высокочувствительный усилительный тракт с узкополосным усилением и синхронным детектированием;

  • автоматизированный процесс измерений с сохранением результатов в файл данных для последующего анализа.

 

 

Русский