Спектрально-аналитический комплекс на основе сканирующего конфокального микроскопа «Nanofinder HighEnd» (LOTIS-TII, Беларусь - Япония)

 

Спектрально-аналитический комплекс на основе сканирующего конфокального микроскопа «Nanofinder HighEnd» (LOTIS-TII, Беларусь - Япония): 

 

Назначение:

  • локальный анализ методами спектроскопии комбинационного рассеяния и фотолюминесценции.

Технические характеристики:

  • 4 лазера (355, 473, 532 и 785 нм) для возбуждения рамановского и люминесцентного излучения;

  • нейтральный фильтр с изменяемой плотностью для ослабления лазерного пучка;

  • высокое спектральное разрешение (до 0,01 нм);

  • возможность получения пространственных распределений параметров рамановского и люминесцентного излучения;

  • пространственное разрешение вплоть до 200 нм (латеральное) / 500 нм (вертикальное);

  • высокочувствительный охлаждаемый фотоприемник (рабочий спектральный диапазон 330 - 1100 нм);

  • система спектральной автокалибровки;

  • возможность проведения криогенных измерений (до 20 К).

Основные публикации:

  1. Nitrogen-doped twisted graphene grown on copper by atmospheric pressure CVD from a decane precursor / I.V. Komissarov, N.G. Kovalchuk, V.A. Labunov, K.V. Girel, O.V. Korolik, M.S. Tivanov, A. Lazauskas, M. Andrulevicius, T. Tamulevicius, V. Grigaliunas, S. Meskinis, S. Tamulevicius, S.L. Prischepa // Beilstein Journal of Nanotechnology. - 2017. - Vol. 8. - P. 145 - 158;

  2. Low-temperature anharmonic phonon properties of supported graphene / E.A. Kolesov, M.S. Tivanov, O.V. Korolik, A.M. Saad, I.V. Komissarov // Carbon. - 2017. - Vol. 111. - P. 587 - 591;

  3. Significant G peak temperature shift in Raman spectra of graphene on copper / M.S. Tivanov, E.A. Kolesov, A.G. Praneuski, O.V. Korolik, A.M. Saad, I.V. Komissarov, N.G. Kovalchuk // Journal of Materials Science: Materials in Electronics. - 2016. - Vol. 27, Issue 9. - P. 8879 - 8883;

  4. Photoelectrochemical and raman characterization of nanocrystalline CdS Grown on ZnO by successive ionic layer adsorption and reaction method / A.V. Kozitskiy, O.L. Stroyuk, S.Ya. Kuchmiy, A.V. Mazanik, S.K. Poznyak, Е.А. Streltsov, A.I. Kulak, O.V. Korolik, V.M. Dzhagan // Thin Solid Films. - 2014. - Vol. 562. - P. 56 - 62;

  5. Silver nanostructures formation in porous Si/SiO2 matrix / V. Sivakov, E.Yu. Kaniukov, A.V. Petrov, O.V. Korolik, A.V. Mazanik, A. Bochmann, S. Teichert, I.J. Hidi, A. Schleusener, D. Cialla, M.E. Toimil-Molares, C. Trautmann, J. Popp, S.E. Demyanov // Journal of Crystal Growth. - 2014. - Vol. 400. - P. 21 - 26;

  6. Effect of interparticle field enhancement in self-assembled ailver aggregates on surface-enhanced raman scattering / V.I. Shautsova, V.A. Zhuravkov, O.V. Korolik, A.G. Novikau, G.P. Shevchenko, P.I. Gaiduk // Plasmonics. - 2014. - Vol. 9. - Issue 5. -  P. 993 - 999;

  7. Electrodeposited Ni-Co-B alloy coatings: preparation and properties / Yu.N. Bekish, S.K. Poznyak, L.S. Tsybulskaya, T.V. Gaevskaya, V.A. Kukareko, A.V. Mazanik // Journal of The Electrochemical Society. - 2014. - Vol. 161. - Issue. - 12. - P. D620 - D627;

  8. Room-temperature photoluminescence in quasi-2D TlGaSe2 and TlInS2 semiconductors / V. Grivickas, K. Gulbinas, V. Gavryushin, V. Bikbajevas, O.V. Korolik, A.V. Mazanik, A.K. Fedotov // Physica Status Solidi. - Rapid Research Letters. - 2014. - Vol. 8. - Issue 7. - P. 639 - 642;

  9. Hopping of electron transport in granular Cux(SiO2)1–x nanocomposite films deposited by ion-beam sputtering / I.A. Svito, A.K. Fedotov, T.N. Koltunowicz, P. Zukowski, Y. Kalinin, A. Sitnikov, K. Czarnacka, A. Saad // Journal of Alloys and Compounds. - 2014. - Vol. 615. - Suppl. 1. - P. S371 - S374;

  10. Raman scattering and carrier diffusion study in heavily co-doped 6H-SiC layers / K. Gulbinas, P. Scajev, V. Bikbajavas, V. Grivickas, O.V. Korolik, A.V. Mazanik, A.K. Fedotov, V. Jokubavicius, M.K. Linnarsson, M. Syvajarvi, S. Kamiyama // IOP Conference Series: Materials Science and Engineering. - 2014. - Vol. 56. - P. 012005.1 - 012005.5;

  11. Investigations of nanocrystalline SnS films' surface morphology modification during inductively coupled argon plasma sputtering / S.P. Zimin, E.S. Gorlachev, I.I. Amirov, V.V. Naumov, G.A. Dubov, V.F. Gremenok, S.A. Bashkirov // Semiconductor Science and Technology. - 2014. - Vol. 29. - P. 015009.1 - 015009.5;

  12. Carbon redistribution and precipitation in high temperature ion-implanted strained Si/SiGe/Si multi-layered structures / P.I. Gaiduk, J. Lundsgaard Hansen, A.N. Larsen, O.V. Korolik, F.L. Bregolin, W. Skorupa // Microelectronic Engineering. - 2014. - Vol. 125. - P. 8 - 13;

  13. Microstructural analysis of In2S3 thin films by raman spectroscopy // H. Izadneshan, V.F. Gremenok // Journal of Applied Spectroscopy. - 2014. - Vol. 81. - Issue 5. - P. 694 - 698;

  14. Photoelectrochemical and raman characterization of In2O3 mesoporous films sensitized by CdS nanoparticles / N.V. Malaschenok, S.K. Poznyak, E.A. Streltsov, A.I. Kulak, A.K. Fedotov, O.V. Korolik, A.V. Mazanik // Beilstein Journal of Nanotechnology. - 2013. - Vol. 4. - P. 255 - 261;

  15. Raman scattering in a diamond crystal implanted by high-energy nickel ions / O.N. Poklonskaya, A.A. Khomich // Journal of Applied Spectroscopy. - 2013. - Vol. 80. - Issue 5. - P. 715 - 720;

  16. Identification of nickel silicide phases on a silicon surface from Raman spectra / V.A. Solodukha, A.S. Turtsevich, Y.A. Solovyev, O.E. Sarychev, S.V. Gaponenko, O.V. Milchanin // Journal of Applied Spectroscopy. - 2013. - Vol. 79. - Issue 6. - P. 1002 - 1005; 

  17. Structural and magnetic properties of Ni nanowires grown in mesoporous silicon templates / A.L. Dolgiy, S.V. Redko, I. Komissarov, V.P. Bondarenko, K.I. Yanushkevich, S.L. Prischepa // Thin Solid Films. - 2013. - Vol. 543. - P. 133 - 137;

  18. Динамика оксидных фаз на поверхности монокристаллических и поликристаллических пленок Pb1−ХSnХTe при исследованиях методом комбинационного рассеяния света / С.П. Зимин, Е.С. Горлачев, Н.В. Гладышева, В.В. Наумов, В.Ф. Гременок, Х.Г. Сейди // Оптика и Спектроскопия. - 2013. - Т. 115. - № 5. – С. 67 - 72.

 

 

Русский