Система для определения латеральной однородности солнечных элементов

 

Система для определения латеральной однородности солнечных элементов: 

 

Назначение:

  • регистрация латерального распределения фотоЭДС/фототока, индуцированного световым лучом;

  • регистрация латерального распределения нагрева (температуры) при пропускании через исследуемый элемент прямого или обратного тока.

Технические характеристики:

  • лазерные светодиоды на длины волн генерации 405, 532, 650 и 905 нм со встроенными фокусирующими системами (диаметр светового пятна на поверхности исследуемого СЭ до 0,5 мм);

  • ИК-пирометр для бесконтактного измерения температуры с точностью 0,1 °С и пространственным разрешением до 1,0 мм;

  • размеры рабочего стола 100 мм × 100 мм;

  • максимальное перемещение рабочего стола 200 мм × 200 мм с минимальным шагом 25 мкм.

 

 

Русский