ТЭМАТЫКА КУРСАВЫХ І ВЫПУСКНЫХ КВАЛІФІКАЦЫЙНЫХ ПРАЦ (2025-2026 навучальны год)

Паклонскі М.А., доктар. фіз.-мат. навук, прафесар,
чл.-кар. НАНБ, замежны член РАН.

1. Распаўсюджванне цуга электронаў у паўправадніковай ніткі на паверхні ферыту.

2. Структураванне адлюстраванага ад палосак графена белага святла.

3. Электрамагнітнае выпраменьванне выгнутымі 2D-сістэмамі са стацыянарным токам.

4. Генерацыя радыёхваль выгнутымі 1D-сістэмамі пры ўзрушанасці ў іх электрычнага току.

Лукашэвіч М.Р., доктар. фіз.-мат. навук, прафесар.

1. Распрацоўка метадычных асноў і пастаноўка лабараторнай работы «Вывучэнне магнітарэзістыўнага эфекту ў магнітаўпарадкаваным асяроддзі».

2. Распрацоўка метадычных асноў і пастаноўка лабараторнай работы «Вывучэнне эфекту Хола ў магнітаўпарадкаваным асяроддзі».

3. Аптычная характарызацыя мадыфікаваных высокадознай імплантацыяй іёнаў марганцу плёнак полііміду.

4. Электрычныя характарыстыкі кампазіта, атрыманага высокадознай імплантацыяй іёнаў марганцу ў поліімід, на пастаянным і пераменным току.

5. Электрычныя характарыстыкі на пастаянным і пераменным току кампазіта, атрыманага імплантацыяй іёнаў нікеля ў поліімід.

6. Мадыфікацыя магнітных характарыстык плёнак полііміда імплантацыяй іёнаў нікеля.

7. Электрычныя характарыстыкі на пастаянным і пераменным току кампазіта, атрыманага імплантацыяй іёнаў нікеля ў поліэфірэфіркетон.

8. Мадыфікацыя магнітных характарыстык плёнак поліэфірэфіркетону, імплантацыяй іёнаў нікеля.

9. Змена марфалогіі паверхні пры імплантацыі іёнаў сурмы ў плёнкі поліэтылентэрэфталату.

10. Змена элементнага складу прыпаверхневага пласту плёнкі поліэтылентэрэфталата пры імплантацыі іёнаў сурмы.

11. Асаблівасці праяўлення геаметрычнага і памернага эфектаў у магнітасупраціўленні магнітаўпарадкаваных цвёрдых цел.

12. Асаблівасці праявы геаметрычнага і памернага эфектаў у эфекце Хола ў магнітаўпарадкаваных цвёрдых целах.

13. Праява памерных эфектаў у магнітарэзістыўным эфекце тонкіх плёнак пермалоя.

14. Праява памерных эфектаў у эфекце Хола ў тонкіх плёнках пермалоя.

15. Магнітарэзістыўны эфект у нанакрышталічных плёнках жалеза на сапфіравых падкладках.

16. Эфект Хола ў нанакрышталічных плёнках жалеза на сапфіравых падкладках.

17. Электрычныя характарыстыкі тонкіх плёнак нікеля, сінтэзаваных метадам іённа-асіставальнага асаджэння.

18. Планарны эфект Хола ў дыямагнітных і магнітаўпарадкаваных плёнках.

19. Класічны і спантанны эфекты Хола ў нанакрышталічных плёнках жалеза пры розных механізмах электроннага транспарту.

20. Уплыў даменных сценак Блыха і Нээля на электраправоднасць магнітаўпарадкаваных цвёрдых целаў.

21. Уплыў даменных сценак Блыха і Нээля на магнітарэзістыўны эфект у магнітаўпарадкаваных цвёрдых целах.

Азарка І.І., заг. НДЛ фізікі і тэхнікі паўправаднікоў,
канд. фіз.-мат. навук, дацэнт

1. ЭПР даследаванні мікракрышталяў алмаза да і пасля высокатэмпературнага адпалу.

2. Вывучэнне метаду ЭПР на прыкладзе даследавання біялагічных аб'ектаў.

3. Парамагнітныя ўласцівасці ўзораў трансгенных раслін тытуню, вырашчаных з рознай канцэнтрацыяй нікеля ў пажыўным растворы.

4. Даследаванне метадам ЭПР мікрапарашкоў сінтэтычных алмазаў.

5. Уплыў построставай апрацоўкі на парамагнітныя характарыстыкі ультрадысперсных алмазаў дэтанацыйнага сінтэзу.

6. ЭПР дыягностыка алмазаў, сінтэзаваных у борзмяшчальных сістэмах.

7. Спектраскапічныя характарыстыкі кубічнага нітрыду бора, сінтэзаванага ў борзмяшчальных сістэмах.

8. Вывучэнне электрычных (або магнітных, ці аптычных) характарыстык кампазіцыйных матэрыялаў на аснове шматслаёвых структур, сфарміраваных пасродкам іённай імплантацыі.

9. Парамагнітныя ўласцівасці палімерных кампазітаў з кіраванай праводнасцю, сфарміраваных іённай імплантацыяй.

10. Даследаванне метадам ЭПР палімерных матрыц, легіраваных кластарамі вугляроду (або металу).

11. Спін-залежныя электронныя працэсы ў кампазіцыйных матэрыялах, мадыфікаваных іённай імплантацыяй.

Баеў В.Г., заг. лабараторыяй «Узаемадзеянні выпраменьвання з рэчывам» Інстытута энергетыкі НАН Беларусі, канд. фіз.-мат. навук

1. Структурна-фазавы склад і электратранспартныя ўласцівасці вугляродных рэзістыўных пакрыццяў для мікраструктурных дэтэктараў іянізавальнага выпраменьвання ў эксперыментах на паскаральніках часціц і камп’ютарнай тамаграфіі.

2. Электрамагнітныя ўласцівасці мікраструктураваных метаматэрыялаў, якія выкарыстоўваюцца ў сістэмах дэтэктыравання іянізавальнага выпраменьвання.

3. Распрацоўка фізіка-тэхналагічных асноў стварэння высокаэфектыўных стабільных тонкаплёначных сонечных элементаў.

4. Камп’ютарнае мадэляванне для распрацоўкі мікраструктурных сістэм дэтэктыравання іянізавальнага выпраменьвання.

5. Распрацоўка прататыпаў дэтэктараў іянізавальнага выпраменьвання для эксперыментаў на паскаральніках часціц і камп’ютарнай тамаграфіі.

6. Распрацоўка бар'ерных структур на аснове пластоў шыраказонных паўправаднікоў для стварэння бетавальтаічных пераўтваральнікаў энергіі (ядзерная батарэйка).

Брынкевіч Д.І., вядучы навуковы супрацоўнік, канд. фіз.-мат. навук

1. Метады даследавання цвёрдасці тонкіх пакрыццяў.

2. Аптычныя ўласцівасці пазітыўных фотарэзістаў.

3. Метад поўнага ўнутранага адлюстравання для даследавання паўправадніковых матэрыялаў.

4. Метады індэнтавання для вымярэння цвёрдасці матэрыялаў.

5. Вымярэнне мікрацвёрдасці індэнтарам Віккерса прыпаверхневых пластоў розных матэрыялаў.

Гарбачук М.І., намеснік дэкана па вучэбнай рабоце і адукацыйных інавацыях, канд. фіз.-мат. навук, дацэнт

1. Механізмы пераносу зарада і вольт-амперныя характарыстыкі варыстараў.

2. Імпеданс крамянёвых дыёдаў з хуткім аднаўленнем зваротнага супраціву.

3. Тэхналогіі фарміравання крамянёвых дыёдаў з хуткім аднаўленнем зваротнага супраціву.

4. Мадэлі тэорыі праходжання, якія выкарыстоўваюцца для апісання пераносу зарада ў нанакампазітах.

5. Эквівалентныя схемы замяшчэння крамянёвых дыёдаў, апрамененых высокаэнергетычнымі цяжкімі іёнамі.

6. Радыяцыйныя дэфекты, якія ўводзяцца ў крэмній пры апрамяненні высокаэнергетычнымі цяжкімі іёнамі.

7. Імпеданс p–n-структур, падвергнутых падвойнай імплантацыі высокаэнергетычнымі іёнамі гелія.

8. Перанос зарада ў крамянёвых дыёдах, апрамененых альфа часціцамі.

9. Імпеданс МДП-структур, падвергнутых апрамяненню высокаэнергетычнымі іёнамі гелія.

10. Эксперыментальная ўстаноўка для рэгістрацыі электрастатычных палёў.

Дарасінец У.А., вядучы навуковы супрацоўнік, канд. фіз.-мат. навук

1. Механізмы электраправоднасці ў разупарадкаваных металааксідных паўправадніках.

2. Электраправоднасць паўправаднікоў з шматзараднымі легіруючымі прымесямі.

3. Уплыў рэжымаў сінтэзу на механізмы электраправоднасці плёнак SnO2-δ

4. Вызначэнне энергіі актывацыі электраправоднасці SnO2 з улікам шматзараднасці вакансій кіслароду.

5. Разлік параметраў скачковай электраправоднасці метадам Монтэ Карла па двухмернай сетцы Мілера-Абрахамса.

Казючыц М.М., старшы навуковы супрацоўнік НДЛ фізікі электронных матэрыялаў

1. Люмінесцэнтны дэтэктар на аснове алмаза для візуалізацыі электроннага пучка.

2. Аптымізацыя фоталюмінесцэнцыі азот-вакансіённых цэнтраў у алмазе.

Карповіч І.А., канд. фіз.-мат. навук, дацэнт

1. Распрацоўка прылады клімат-кантролю на базе мікракантролера АVR.

2. Кіраванне дыскрэтнымі сігналамі пры дапамозе мікракантролераў AVR.

3. Апрацоўка дыскрэтных сігналаў з дапамогай мікракантролераў АVR.

4. Сістэма кіравання «Разумны дом» з дапамогай мікракантролера AVR.

5. Выкарыстанне інфармацыйных тэхналогій у мадэрнізацыі лабараторнай работы па вывучэнні спектра фотаправоднасці паўправаднікоў.

6. Аўтаматызацыя вымяральнай устаноўкі лабараторнай работы «Стабілітроны».

7. Распрацоўка праграмнага забеспячэння лабараторнай працы «Вызначэнне даўжыні дыфузіі і часу жыцця нераўнаважных носьбітаў зарада метадам рухомага светлавога зонда».

8. Распрацоўка праграмнага забеспячэння лабараторнай работы «Электралюмінесцэнцыя паўправаднікоў».

9. Вымярэнне токаў і высілкаў мікракантролерам AVR пры даследаванні ВАХ стабілітронаў.

10. Вымяральнік індуктыўнасці з выкарыстаннем мікракантролера.

11. Упраўленне магутнымі нагрузкамі з дапамогай мікракантролераў AVR.

12. Гадзіннік-тэрмометр на мікракантролеры ATmega328.

13. Упраўленне святлодыёдамі з дапамогай мікракантролера AVR.

14. Вымярэнне пераменнай напругі з дапамогай мікракантролера AVR.

15. Вымяральнік частаты на мікракантролеры AVR.

16. Схема кіравання крокавымі рухавікамі з дапамогай мікракантролера.

17. Схема кіравання серварухавікамі з дапамогай мікракантролера.

18. Вымяральнік RLC на базе мікракантролера.

19. Ужыванне RGB святлодыёдаў для разгорткі спектру сканавання.

Кавалёў А.І., канд. фіз.-мат. навук, дацэнт

1. Распрацоўка макета монахраматара ў бачным дыяпазоне даўжынь хваль.

2. Макет двухкаардынатнай усталёўкі для прэцызійнага зандавання паўправадніковых матэрыялаў.

3. Даследаванне спектральных характарыстык фота- і святлодыёдаў.

4. Блок першаснай апрацоўкі і рэгістрацыі аналагавых сігналаў з лабараторных установак.

5. Вымярэнне ўдзельнага электрычнага супраціўлення матэрыялаў чатырохзондавым метадам. Аўтаматызацыя вымяральнага працэсу.

6. Характарызацыя паўправадніковых дыёдаў і транзістараў шляхам вымярэння вольт-амперных характарыстык.

7. Рэалізацыя на базе платформы ARDUINO UNO алгарытму распазнання колеру.

8. Распрацоўка і даследаванне павышаючага DC-DC пераўтваральніка.

9. Даследаванне тэмпературнай залежнасці параметраў p-n-пераходу.

10. Стварэнне тэрмасэнсара на яго аснове.

11. Распрацоўка і даследаванне шматступеньчатай планетарнай перадачы як асновы для стварэння рабатызаваных маніпулятараў.

12. Распрацоўка блока кіравання ўстаноўкай для вывучэння эфекту Доплера.

13. Лічбавы частотамер для вымярэння доплераўскага зруху ультрагукавых сігналаў.

Ксяневіч В.К., заг. НДЛ фізікі электронных матэрыялаў, канд. фіз.-мат. навук, дацэнт

1. Сінтэз і структурныя ўласцівасці плёнак аксідаў волава рознага фазавага складу.

2. Электрычныя ўласцівасці графена.

3. Электрычныя і магнітныя ўласцівасці легіраваных нікелем плёнак аксідаў волава.

4. Структурныя і электрычныя ўласцівасці імпантаваных іёнамі гелія плёнак аксідаў волава.

5. Адчувальнасць да вільготнасці нестэхіаметрычных плёнак дыяксіду волава.

6. Электраправоднасць і магнітныя ўласцівасці плёнак аксідаў волава.

7. Механізмы электраправоднасці ў разупарадкаваных і гетэрагенных матэрыялах паблізу пераходу метал-дыэлектрык.

8. Электраправоднасць і адчувальнасць да вільготнасці гібрыдных плёнак з вугляродных і неарганічных нанатрубак.

9. Электрычныя і аптычныя ўласцівасці легіраваных і нелегіраваных плёнак аксідаў волава.

10. Крышталічная структура і электраправоднасць легіраваных алюмініем плёнак аксідаў волава.

Лапчук Н.М., канд. фіз.-мат. навук, дацэнт

1. Асноўныя віды парамагнітных дэфектаў у сінтэтычных алмазах.

2. Ацэнка формы контуру лініі электроннага парамагнітнага рэзанансу ў бурых вуглях рознага генезісу.

3. Парамагнетызм бурых вуглёў, схільных да самазагарання.

4. Даследаванне метадам ЭПР выкапняў вуглёў, як прыродных арганічных палімераў.

5. Парамагнетызм узораў піралітычнага графіту.

6. Асаблівасці парамагнетызму дэтанацыйных нанаалмазаў высокай ступені ачысткі.

7. Парамагнетызм легіраванага атамамі срэбра дэтанацыйнаго нанаалмаза, апрамененага электронамі.

8. Уплыў магутнасці ЗВЧ на параметры спектраў ЭПР дэтанацыйных нанаалмазаў, легіраваных падчас сінтэзу іёнамі срэбра.

9. Дыягностыка метадам электроннага парамагнітнага рэзанансу спечаных пры розных цісках і тэмпературах парашкоў ДНА.

10. Уплыў высокатэмпературнага адпалу на форму контуру лініі ЭПР парашкоў дэтанацыйнага нанаалмаза.

11. Уплыў імплантацыі іёнаў на парамагнетызм палімерных плёнак.

12. Анізатрапія параметраў спектраў ЭПР імплантаваных іёнамі сурмы плёнак поліэтылентэрэфталата ў магнітным полі

13. Уплыў таўшчыні плёнак поліэтылентэрэфталата, апрамененых іёнамі сурмы з энергіяй 60 кэВ, і дозай 2000 мкКл, на параметры эталоннага ўзору, які кантралюе дыхтоўнасць рэзанатара.

14. Уплыў УФ выпраменьвання на параметры спектраў ЭПР апрамененай іёнамі азоту і адпаленай падчас ВТА плёнкі дыяксіду крэмнія.

15. Рэлаксацыйныя працэсы ў апрамененых іёнамі плёнках поліэтылентэрэфталату.

16. Уплыў умоў захоўвання апрамененых іёнамі фосфару і сурмы плёнак поліэтылентэрэфталата на асноўныя параметры спектраў ЭПР.

17. Часы спін-спінавай і спін-рашоткавай парамагнітнай рэлаксацыі ў апрамененых іёнамі дэйтэрыя з Е = 360 кэВ плёнках CVD алмаза.

18. Параўнальны аналіз вынікаў адпалу парамагнітных дэфектаў у інтэрвале тэмператур 400-1000 ° C ва ўзорах нейтронна-апрамененага алмаза і ДНА высокай ступені ачысткі.

19. Уплыў умоў мадыфікацыі паверхні крэмнія на асноўныя параметры спектраў ЭПР.

20. Уплыў паходжання вугляродных матэрыялаў (антрацыт, графіт, алмаз прыродны, алмаз сінтэтычны) на асноўныя параметры спектраў ЭПР.

Прасаловіч У.С., заг. НДЛ спектраскапіі паўправаднікоў, канд. фіз.-мат. навук, дацэнт

1. Метады вымярэння параметраў электрафізічных паўправадніковых прыбораў.

2. Вызначэнне каэфіцыента ўзмацнення біпалярнага транзістара.

3. Уплыў тэхналагічных прымесяў на эксплуатацыйныя параметры прыбораў мікраэлектронікі.

4. Камп’ютарная апрацоўка вынікаў вымярэння вольт-амперных характарыстык.

5. Камп’ютарная апрацоўка вынікаў вымярэння вольт-фарадных характарыстык.

Сідарэнка Ю.У., канд. фіз.-мат. навук, дацэнт

1. Парамагнітныя характарыстыкі кампазіцыйных матэрыялаў з ультрадысперснымі алмазамі.

2. Даследаванне метадам ЭПР ультрадысперсных алмазаў рознай ступені агрэгацыі.

3. Парамагнітныя характарыстыкі халькапірытаў.

Янкоўскі Ю.М., вядучы навуковы супрацоўнік, канд. фіз.-мат. навук

1. Камп’ютарная апрацоўка вынікаў вымярэнняў мікрацвёрдасці палімерных структур.

2. Камп’ютарнае мадэляванне вынікаў вымярэнняў, атрыманых з дапамогай метаду мікраіндэнтавання.