Центр коллективного пользования уникальным научным оборудованием

«Белорусский межвузовский центр обслуживания научных исследований»





Поиск:
Основные направления исследований
  • исследование микро- и наноструктуры поверхности различных материалов и изделий методом растровой электронной микроскопии;
  • определение качественного и количественного элементного состава микроучастков поверхности методом рентгеноспектрального микроанализа;
  • трехмерные измерения линейных размеров элементов структур микро- и нанорельефа поверхности конденсированных сред методом сканирующей зондовой микроскопии;
  • определение текстуры, фазового состава, состояния границ зерен материалов с помощью дифракции обратно рассеянных электронов;
  • установление типа и параметров кристаллической решетки неорганических материалов, размеров областей когерентного рассеяния, величины микронапряжений, характеристик текстуры и др. методом рентгеноструктурного анализа;
  • идентификация поликристаллических веществ, определение кристаллографических характеристик индивидуальных соединений и твердых растворов методом рентгенофазового анализа;
  • определение толщины и состава тонких однослойных или многослойных пленок на поверхности массивных образцов методом растровой электронной микроскопии;
  • измерение спектров комбинационного рассеяния и фотолюминесценции в широком диапазоне температур (от гелиевой температуры до комнатной) с высоким пространственным и спектральным разрешением;
  • определение качественного, полуколичественного и количественного состава твердых и жидких материалов посредством анализа эмиссионных спектров плазмы, возбуждаемой излучением двухимпульсного лазера;
  • изучение локальных механических (трение, жесткость) и электрических (работа выхода электронов, электронная плотность, поверхностный потенциал) свойств поверхности методами сканирующей зондовой микроскопии;
  • визуализация доменной структуры магнитных материалов с высоким пространственным разрешением методами сканирующей зондовой микроскопии;
  • препарирование планарных кристаллических образцов для просвечивающей и сканирующей электронной микроскопии, включающее механическую и электрохимическую полировку, ионную очистку;
  • автоматизированные измерения электрических свойств на постоянном и переменном токе (вольт-амперные и вольт-фарадные характеристики, электрическое сопротивление, импеданс), магнитных свойств (магнитосопротивление, магнитоимпеданс, кривые намагничения), а также термоэдс и теплопроводности различных материалов (металлических, полупроводниковых, композиционных) в широком диапазоне температур и магнитных полей;
  • измерение спектральных характеристик отражения, пропускания и оптической плотности плоских оптических деталей и покрытий в поляризованном свете;
  • определение микротвердости, динамической твердости и нанотвердости материалов;
  • исследование трибологических свойств поверхностей различных материалов;
  • разработка приборов для контроля качества голографических изображений;
  • культивирование клеточных линий и микроорганизмов.
© 2018-2020 Центр коллективного пользования уникальным научным оборудованием «Белорусский межвузовский центр обслуживания научных исследований»