Основные направления исследований

• исследование микро- и наноструктуры поверхности различных материалов и изделий методом растровой электронной микроскопии;
• определение качественного и количественного элементного состава микроучастков поверхности методом рентгеноспектрального микроанализа;
• трехмерные измерения линейных размеров элементов структур микро- и нанорельефа поверхности конденсированных сред методом сканирующей зондовой микроскопии;
• определение текстуры, фазового состава, состояния границ зерен материалов с помощью дифракции обратно рассеянных электронов;
• установление типа и параметров кристаллической решетки неорганических материалов, размеров областей когерентного рассеяния, величины микронапряжений, характеристик текстуры и др. методом рентгеноструктурного анализа;
• идентификация поликристаллических веществ, определение кристаллографических характеристик индивидуальных соединений и твердых растворов методом рентгенофазового анализа;
• определение толщины и состава тонких однослойных или многослойных пленок на поверхности массивных образцов методом растровой электронной микроскопии;
• измерение спектров комбинационного рассеяния и фотолюминесценции в широком диапазоне температур (от гелиевой температуры до комнатной) с высоким пространственным и спектральным разрешением;
• определение качественного, полуколичественного и количественного состава твердых и жидких материалов посредством анализа эмиссионных спектров плазмы, возбуждаемой излучением двухимпульсного лазера;
• изучение локальных механических (трение, жесткость) и электрических (работа выхода электронов, электронная плотность, поверхностный потенциал) свойств поверхности методами сканирующей зондовой микроскопии;
• визуализация доменной структуры магнитных материалов с высоким пространственным разрешением методами сканирующей зондовой микроскопии;
• препарирование планарных кристаллических образцов для просвечивающей и сканирующей электронной микроскопии, включающее механическую и электрохимическую полировку, ионную очистку;
• автоматизированные измерения электрических свойств на постоянном и переменном токе (вольт-амперные и вольт-фарадные характеристики, электрическое сопротивление, импеданс), магнитных свойств (магнитосопротивление, магнитоимпеданс, кривые намагничения), а также термоэдс и теплопроводности различных материалов (металлических, полупроводниковых, композиционных) в широком диапазоне температур и магнитных полей;
• измерение спектральных характеристик отражения, пропускания и оптической плотности плоских оптических деталей и покрытий в поляризованном свете;
• определение микротвердости, динамической твердости и нанотвердости материалов;
• исследование трибологических свойств поверхностей различных материалов;
• разработка приборов для контроля качества голографических изображений;
• культивирование клеточных линий и микроорганизмов.