Перечень научных услуг

• – исследование микро- и наноструктуры поверхности различных материалов и изделий методом растровой электронной микроскопии;
• – определение качественного и количественного элементного состава от бериллия Be до плутония Pu микроучастков поверхности методом рентгеноспектрального микроанализа (анализ в точке, анализ вдоль произвольно заданной линии, анализ по произвольно заданной площади, анализ по массиву точек);
• – построение карт распределения химических элементов в приповерхностной области проводящих материалов;
• – трехмерные измерения линейных размеров элементов структур микро- и нанорельефа поверхности конденсированных сред методом сканирующей зондовой микроскопии с высоким пространственным разрешением (0,1 нм);
• – определение основных параметров шероховатости поверхности с перепадом высот до 2 мкм с помощью сканирующего зондового микроскопа;
• – определение текстуры, фазового состава, состояния границ зерен материалов с помощью дифракции обратно рассеянных электронов;
• – установление типа и параметров кристаллической решетки неорганических и органических материалов, размеров областей когерентного рассеяния, величины внутренних механических напряжений 1-го и 2-го рода, характеристик текстуры и др. методом рентгеноструктурного анализа;
• – идентификация поликристаллических веществ, определение кристаллографических характеристик индивидуальных соединений и твердых растворов методом рентгенофазового анализа;
• – определение степени кристалличности образца методом рентгеновской дифрактометрии;
• – определение толщины и состава тонких однослойных или многослойных пленок на поверхности массивных образцов методом растровой электронной микроскопии;
• – изучение локальных механических (трение, жесткость) и электрических свойств поверхности методами сканирующей зондовой микроскопии;
• – визуализация доменной структуры магнитных материалов с высоким пространственным разрешением (≤ 50 нм) методами сканирующей зондовой микроскопии;
• – препарирование планарных кристаллических образцов для просвечивающей и сканирующей электронной микроскопии, включающее механическую и электрохимическую полировку, ионную очистку;
• – определение микротвердости, динамической твердости и нанотвердости материалов;
• – определение модуля упругости статическим и динамическим методами при комнатной температуре;
• – определение вязкоупругих характеристик материалов;
• – исследование трибологических свойств поверхностей различных материалов;
• – нанесение покрытий вакуумно-дуговым, магнетронным, термическим методами;
• – измерение спектров комбинационного рассеяния и фотолюминесценции в широком диапазоне температур (от гелиевой температуры до комнатной) с высоким пространственным и спектральным разрешением;
• – определение качественного, полуколичественного и количественного состава твердых и жидких материалов посредством анализа эмиссионных спектров плазмы, возбуждаемой излучением двухимпульсного лазера;
• – автоматизированные измерения электрических свойств на постоянном и переменном токе (вольт-амперные и вольт-фарадные характеристики, электрическое сопротивление, импеданс), магнитных свойств (магнитосопротивление, магнитоимпеданс, кривые намагничения), а также термоэдс и теплопроводности различных материалов (металлических, полупроводниковых, композиционных) в широком диапазоне температур и магнитных полей;
• – измерение спектральных характеристик отражения, пропускания и оптической плотности плоских оптических деталей и покрытий в поляризованном свете;
• – разработка приборов для контроля качества голографических изображений;
• – культивирование клеточных линий и микроорганизмов;
• – проведение научных стажировок, научных семинаров и т.д. с использованием научного оборудования центра.