Основные методики измерений

• ГОСТ Р 8.700-2010 «ГСИ. Методика измерений эффективной высоты шероховатости поверхности с помощью сканирующего зондового атомно-силового микроскопа»;
• ГОСТ Р 8.748-2011 (ИСО 14577-1:2002) Государственная система обеспечения единства измерений (ГСИ). Металлы и сплавы. Измерение твердости и других характеристик материалов при инструментальном индентировании. Часть 1. Метод испытаний;
• ГСИ. Метрические параметры поверхности. Методика выполнения измерений с помощью сканирующего зондового микроскопа Solver P47, калиброванного по ГОСТ Р 8.635 с помощью рельефной меры нанометрового диапазона, изготовленной по ГОСТ Р 8.628 и поверенной по ГОСТ Р 8.629 или откалиброванной по ГОСТ Р 8.644;
• ГСИ. Линейные размеры элементов топологии микрорельефа поверхности твердотельных материалов. Методика выполнения измерений с помощью растровых электронных микроскопов;
• ГСИ. Дифракционный анализ поликристаллов. Методика выполнения измерений с помощью рентгеновского дифрактометра;
• Методика определения элементного состава микроучастков поверхности, построения карт распределения элементов в образце с помощью энергодисперсионного безазотного спектрометра Aztec Energy Advanced X-Max 80 с использованием программного обеспечения Oxford Instruments NanoAnalysis Aztec;
• Методика измерения локальных электрических характеристик (поверхностного потенциала, пространственной вариации емкости поверхности, электростатических сил) методами атомно-силовой микроскопии;
• Методика измерения оптических спектров пропускания, отражения в ИК диапазоне с помощью Фурье-спектрометра VERTEX 70;
• Методика измерения спектральных характеристик отражения, пропускания и оптической плотности плоских оптических деталей и покрытий в поляризованном свете на спектрофотометре Photon RT;
• Методики анализа зернистости сталей в соответствии со стандартами ASTM E 1382 - 97 (средний балл зерна) и Е 930 – 92 (балл наибольшего зерна), ISO 643 и ГОСТ 5639 – 82;
• Методика исследования трибологических свойств поверхности различных материалов и последующего сохранения на цифровом носителе зависимости коэффициента трения от пути трения;
• Методика измерения спектров комбинационного рассеяния и фотолюминесценции с высоким пространственным и спектральным разрешением с помощью спектрально-аналитического комплекса на основе сканирующего конфокального микроскопа Nanofinder;
• Методика автоматизированного измерения электрических свойств на постоянном и переменном токе (вольт-амперные и вольт-фарадные характеристики, электрическое сопротивление, импеданс), магнитных свойств (магнитосопротивление, магнитоимпеданс, кривые намагничения), а также термоэдс и теплопроводности различных материалов (металлических, полупроводниковых, композиционных) в широком диапазоне температур и магнитных полей;
• Методики подготовки металлографических образцов различной твердости и состава для микроскопических исследований в соответствии с методическими указаниями Metalog Guide, разработанными и утвержденными фирмой Struers A/S (Дания).