Физический факультет Услуги

В настоящем каталоге приводится список услуг, которые могут быть оказаны физическим факультетом БГУ в рамках прямых договоров (контрактов)
Вы можете скачать список услуг в формате PDF
В наименованиях услуг представлены ссылки на контактные данные заведующих кафедрами, где проводятся указанные работы

Для получения контактных данных непосредственных исполнителей работ Вы можете обратиться к заместителю декана по научной работе и международному сотрудничеству:

Колесов Егор Александрович

тел.: +375 17 209 51 20

e‑mail: kolesov.bsu@gmail.com

e‑mail: kolesovea@bsu.by

Также Вы можете ознакомиться со списком разработок физического факультета

Тип исследования / услуги		Наименование услуги	Описание услуги (оборудование, диапазоны и точность измерений, методики измерений и т.д.)	*Ориентировочная стоимость договора, бел. руб.**
Поверхность	Рельеф (электронная микроскопия)	Исследование микро- и наноструктуры поверхности различных материалов и изделий методом растровой электронной микроскопии	Растровый электронный микроскоп LEO 1455 VP, разрешение в высоковакуумном режиме для проводящих образцов 3,5 нм. Измерения проводятся в соответствии с ISO 16700:2016, ГСИ. Линейные размеры элементов топологии микрорельефа поверхности твердотельных материалов. Методика выполнения измерений – с помощью растровых электронных микроскопов.	от 3 000 за комплект исследований
	Фазовый состав Границы зерен	Определение текстуры, фазового состава, состояния границ зерен материалов с помощью дифракции обратно рассеянных электронов	Дифракционная приставка HKL EBSD Premium System Channel 5 к растровому электронному микроскопу LEO 1455 VP: разрешение по глубине 5 нм; латеральное разрешение 500 нм; угловое разрешение 0,11 град; время получения одной картины Кикучи не более 1 с; анализируемый диапазон симметрии кристаллов - все группы Лауэ.
	Химический состав	Определение качественного и количественного элементного состава микроучастков поверхности методом рентгеноспектрального микроанализа (анализ в точке, анализ вдоль произвольно заданной линии, анализ по произвольно заданной площади, анализ по массиву точек)	Энергодисперсионный безазотный спектрометр Aztec Energy Advanced X‑Max 80 к растровому электронному микроскопу LEO 1455 VP: диапазон элементов от Bе до Pu; пределы измеряемых концентраций 0,1-100%; разрешение по энергии по Mn Kα 127 эВ. Измерения проводятся с использованием программного обеспечения Oxford Instruments NanoAnalysis Aztec версии 2.2 в соответствии с ISO 15632:2002.
	Химический состав	Построение карт распределения химических элементов в приповерхностной области проводящих материалов
	Толщина пленок	Определение толщины и состава тонких однослойных или многослойных пленок на поверхности массивных образцов
	Структура, фазовый состав, деформации и т.д.	Измерение и картирование с высоким пространственным разрешением спектров комбинационного (рамановского) рассеяния света и фотолюминесценции	Спектрально-аналитический комплекс NanoFinderHE (Lotis‑TII). Измерение и картирование с субмикронным пространственным разрешением спектров комбинационного (рамановского) рассеяния света и фотолюминесценции, в том числе в температурном диапазоне 25 – 800 К. Длины волны возбуждающего излучения 355, 473, 532 и 785 нм. Спектральное разрешение до 0,01 нм (0,25 см-1).	от 3 000 за комплект исследований
	Рельеф (зондовая микроскопия)	Трехмерные измерения линейных размеров элементов структур микро- и нанорельефа поверхности конденсированных сред методом сканирующей зондовой микроскопии с высоким пространственным разрешением	Сканирующий зондовый микроскоп Solver P47 PRO: максимальный размер области сканирования 100 мкм (длина) х 100 мкм (ширина) х 2 мкм (высота); разрешение по оси Z: 0,06 нм; латеральное разрешение: 0,2 нм. Реализованы различные методы измерений и воздействий: туннельная микроскопия, атомно-силовая микроскопия (контактная и полуконтактная), электросиловая микроскопия (статическая и динамическая), магнитносиловая микроскопия, режим измерения жесткости и латеральных сил поверхности, нанолитография. Измерения проводятся в соответствии с ГСИ. Метрические параметры поверхности. Методика выполнения измерений с помощью сканирующего зондового микроскопа Solver P47, калиброванного по ГОСТ Р 8.635 с помощью рельефной меры нанометрового диапазона, изготовленной по ГОСТ Р 8.628 и поверенной по ГОСТ Р 8.629 или откалиброванной по ГОСТ Р 8.644; ГОСТ Р 8.700-2010.	от 3 000 за комплект исследований
	Рельеф (зондовая микроскопия)	Определение основных параметров шероховатости поверхности с перепадом высот до 2 мкм с помощью сканирующего зондового микроскопа
	Доменная структура	Визуализация доменной структуры магнитных материалов с высоким пространственным разрешением (£ 50 нм) методами сканирующей зондовой микроскопии
	Механические свойства	Изучение локальных механических (трение, жесткость) свойств поверхности методами сканирующей зондовой микроскопии
	Рельеф (зондовая микроскопия)	Трехмерные измерения линейных размеров элементов структур микро- и нанорельефа поверхности конденсированных сред методом сканирующей зондовой микроскопии с высоким пространственным разрешением	Сканирующий зондовый микроскоп SolverNano: определение трехмерной топологии и параметров микрорельефа поверхности конденсированных сред. Разрешение без сенсоров по XY до 0.05 нм, по Z до 0.01 нм; уровень шума XY-сенсора 0.3 нм, уровень шума Z-сенсора 0.03 нм; основные методики: контактная АСМ, амплитудно-модуляционная АСМ, электростатическая АСМ, магнитная АСМ, АСМ спектроскопия, СТМ методики, нанолитография.	от 2 000 за комплект исследований
	Рельеф (зондовая микроскопия)	Определение основных параметров шероховатости поверхности с помощью сканирующего зондового микроскопа
	Доменная структура	Визуализация доменной структуры магнитных материалов с высоким пространственным разрешением методами сканирующей зондовой микроскопии
	Механические свойства	Изучение локальных механических (трение, жесткость) свойств поверхности методами сканирующей зондовой микроскопии
Структура	Кристаллическая решетка Механические напряжения	Установление типа и параметров кристаллической решетки неорганических и органических материалов, размеров областей когерентного рассеяния, величины внутренних механических напряжений 1-го и 2-го рода, характеристик текстуры и др. методом рентгеноструктурного анализа	Рентгеновский дифрактометр Rigaku Ultima IV: диапазон углов сканирования 2θ от -3 до +162°; минимальный шаг сканирования по углу 0.0001°; геометрии Брэгга-Брентано, параллельный пучок; приставка для анализа напряжений и полюсных фигур в тонких пленках и объемных образцах; специализированная высокотемпературная камера для съемок рентгенограмм при нагреве образца.	от 3 000 за комплект исследований
		Идентификация поликристаллических веществ, определение кристаллографических характеристик индивидуальных соединений и твердых растворов методом рентгенофазового анализа
		Определение степени кристалличности образца методом рентгеновской дифрактометрии
	Химический состав	Элементный микроанализ металлов, сплавов, предметов искусства и старины, биобъектов, природных образцов; послойный элементный анализ с микронным и субмикронным разрешением функциональных, защитных и декоративных покрытий	Лазерный атомно-эмиссионный спектрометр: определение концентрации элементов с чувствительностью 10-2 − 10-3 %; количество определяемых химических элементов: 50; спектральный диапазон: 190 − 800 нм; спектральное разрешение: 0,1 нм; минимальный диаметр лазерного пучка на поверхности образца: не более 70 мкм.	от 3 000 за комплект исследований
	Твердость	Определение микротвердости, динамической твердости и нанотвердости материалов	Динамический микротвердомер Shimadzu DUH‑202: инденторы Берковича, точность нагружения – 1% от заданной нагрузки, точность измерения глубины – 1 нм, величина нагрузки от 0,1 мН до 1961 мН, глубина индентирования до 10 мкм; микротвердомеры HV‑1000, 402МVD: инденторы Виккерса, Кнупа, диапазон нагрузки от 0,1 до 9.8 Н; универсальный твердомер HBRVU‑187,5 для определения твердости по методам Роквелла, Бринелля и Виккерса (максимальная нагрузка 1471 Н). Измерения проводятся в соответствии с ГОСТ Р 8.748-2011 (ИСО 14577-1:2002).	от 3 000 за комплект исследований
	Упругость	Определение модуля упругости статическим и динамическим методами при комнатной температуре		от 3 000 за комплект исследований
	Трение (трибология)	Исследование трибологических свойств поверхностей различных материалов	Автоматизированная установка для исследования процессов трения в модифицированных слоях и тонких покрытиях УИПТ‑001: обеспечивает возвратно-поступательное движение образца с заданной амплитудой и скоростью, измеряя при этом коэффициент трения между индентором и поверхностью образца. Диапазон возможных размеров образца: минимальный – 6х4х1 мм; максимальный – 20х35х8 мм; тип индентора – сферический, радиус закругления индентора – от 0,75 мм до 3 мм; нагрузка на индентор – от 0,01 Н до 0,5 Н; длина трека износа – от 5 мм до 20 мм. Методика исследования трибологических свойств поверхности различных материалов и последующего сохранения на цифровом носителе зависимости коэффициента трения от пути трения аттестована БелГИМ.	от 3 000 за комплект исследований
	Растяжение / сжатие	Механические статические испытания на растяжение и сжатие	Универсальная электромеханическая испытательная машина Testometric M250‑10CT (максимальная нагрузка 10 кН). Испытания проводятся в соответствии с ГОСТ 1497-84 (ИСО 6892-84, СТ СЭВ 471-88), ГОСТ 25.503-97.	от 3 000 за комплект исследований
	Металлография	Получение изображений поверхности образца и анализ зернистости с использованием металлографического микроскопа	Металлографический микроскоп МИ‑1 (ОАО «Планар»): увеличение х50-х1000. Применяются методики анализа зернистости в соответствии со стандартами ASTM E 1382 – 97, Е 930 – 92, ISO 643 и ГОСТ 5639 – 82.	от 3 000 за комплект исследований
Тепловые и термоэлектрические свойства, гидрогазодинамика	Термоэлектрические свойства	Измерение параметров термоэлектрических материалов	Комплекс для исследований термоэлектрических свойств материалов: определение параметров термоэлектрических материалов (электропроводность, теплопроводность, термоЭДС, термоэлектрическая добротность) в диапазоне температур от комнатной до 400°С.	от 3 000 за комплект исследований
	Теплопроводность / теплосопротивление	Определение теплофизических характеристик ограждающих конструкций и теплоизоляционных материалов	Измеритель теплопроводности строительных и изоляционных материалов TCMC: экспериментальное определение теплофизических характеристик ограждающих конструкций и теплоизоляционных материалов. Диапазон определения коэффициента теплопроводности 0.002 – 1.0 Вт/(м·К); диапазон определения коэффициента термического сопротивления 0.1 – 8.0 (м2·К)/Вт; диапазон температур измерения 0 – 40 °С; максимальная температура нагревателя – 70 °С; давление на образец – 21 кПа.	от 2 000 за комплект исследований
	Тепловизионные измерения	Термографические измерения для ограждающих конструкций и теплоизоляционных материалов	Тепловизор Testo 882: термографическое определение дефектов теплоизоляции и нарушения герметичности в конструктивных элементах жилых и производственных зданий. Температурный диапазон (переключаемый) от -20 до +100 °C / от 0 до +350 °C; минимальное расстояние фокусировки – 0.2 м; спектральный диапазон от 8 до 14 мкм; температурная чувствительность (NETD) – 60 мK.	от 2 500 за комплект исследований
	Моделирование	Вычислительная гидрогазодинамика и теплофизика	Задачи об изотермических и неизотермических течениях, течение в трубопроводах. Атмосферные течения. Перенос примесей с конвекцией. Моделирование методом конечных разностей, конечных объемов (OpenFOAM) и конечных элементов. Теплопроводность в твердых телах.	от 6 000 за комплект расчетов
Электрические, электронные, магнитные свойства	Электрофизические и магнитные свойства	Определение электрофизических и магнитных параметров металлических, полупроводниковых, композиционных материалов и структур	Электрофизический измерительный комплекс CFHF: определяемые параметры и характеристики: сопротивление, вольт-амперные характеристики, коэффициент Холла, магнитосопротивление, коэффициент термоЭДС, коэффициент теплопроводности, магнитный момент в диапазоне температур 1,7–300 К и магнитных полей до 8 Тл. Для измерения сопротивления, вольт-амперных характеристик температурный диапазон может быть расширен до 1200 К.	от 3 000 за комплект исследований
	Электрические свойства	Измерение электрических характеристик полупроводниковых материалов и структур	Проведение измерений с использованием: источника-измерителя KEITHLEY 2450, цифрового осциллографа GDS 71102B, генератора сигналов АКИП‑3409/3А. Имеется возможность проведения измерений при различных значениях относительной влажности (от 0 до 100 %), а также в вакууме, среде инертных газов, паров жидкостей с варьируемым давлением.	от 3 000 за комплект исследований
	Аккумуляторы	Измерение электрических характеристик накопителей энергии	Измерение циклических вольт-амперограмм и кривых заряда-разряда в диапазоне токов 0-1 А и напряжений 0-100 В	от 2 000 за комплект исследований
	Спектроскопия	Импеданс-спектроскопия материалов и жидкостей	Исследования импеданса материалов и структур в диапазоне частот 20 Гц – 30 МГц в диапазоне температур 10-300 К. Определение диэлектрической проницаемости твердых тел и жидкостей.	от 3 000 за комплект исследований
		Катодолюминесцентная спектроскопия	Регистрация спектров катодолюминесценции образцов при комнатной температуре и температуре жидкого азота в установке на базе монохроматора МДР‑23 и ФЭУ‑100, энергия электронов – 10 кэВ, спектральный диапазон измерений – 200-900 нм.	от 3 000 за комплект исследований
		Фотолюминесцентная спектроскопия	Регистрация спектров фотолюминесценции образцов при комнатной и температуре жидкого азота в установке на базе монохроматора МДР‑23 и охлаждаемого Ge:Cu фотосопротивления, возбуждение излучением ксеноновой лампы, спектральный диапазон измерений 1200-1600 нм	от 3 000 за комплект исследований
		Фотолюминесцентная спектроскопия	Регистрация спектров возбуждения фотолюминесценции образцов при комнатной и температуре жидкого азота в установке на базе монохроматора МДР-12, возбуждение излучением ксеноновой лампы, спектральный диапазон измерений 200-800 нм	от 3 000 за комплект исследований
		Измерение электронного парамагнитного резонанса	ЭПР-спектрометры Varian и Radiopan: проведение измерений электронного парамагнитного резонанса с рабочей частотой 9,3 ГГц, чувствительностью 1×1012 спин/мТл. Диапазон изменений частоты модуляции магнитного поля – от 1 до 100 кГц, диапазон развертки магнитного поля составляет до 1 Тл. Имеется возможность проведения измерений при температурах от 77 до 500 K.	от 3 000 за комплект исследований
	ВАХ, ВФХ	Измерения вольт-амперных и вольт-фарадных характеристик	Измерение вольт-амперных характеристик при температурах 20 - 300 °С. Измерение вольт-фарадных характеристик при комнатной температуре и температуре жидкого азота.	от 2 000 за комплект исследований
	Моделирование	Вычислительная электродинамика	Нанофотоника. Задачи о распространении электромагнитного излучения в фотонных кристаллах, метаматериалах. Метод конечных разностей во временной области (FDTD). Нелинейная оптика. Задачи о распространении лазерных пучков и импульсов. Методы конечных разностей для волновых уравнений.	от 6 000 за комплект расчетов
	Моделирование	Расчет электронных свойств полупроводниковых соединений с размером элементарной ячейки не более 20 атомов	Исследование зонной структуры и распределений электронных плотностей с поатомным и поорбитальным вкладом методами из первых принципов в обобщенном градиентном приближении.	6 000 за комплект расчетов
Оптические свойства	Пропускание Отражение Оптическая плотность	Измерение спектральных характеристик отражения, пропускания и оптической плотности в поляризованном свете	Спектрофотометр Photon RT: спектральный диапазон измерения: 190 − 3 000 нм; спектральное разрешение: 190 − 1000 нм (решетка 600 штр/мм) − 1,8 нм, 1000 − 3 000 нм (решетки 300 штр/мм) − 3,6 нм, измерение коэффициента отражения для углов 8 – 60°.	от 3 000 за комплект исследований
		Измерение спектральных характеристик отражения, пропускания и оптической плотности в поляризованном свете	Спектрофотометр MC 122: спектральный диапазон 190-1100 нм; спектральное разрешение 3 нм; минимальный угол для работы с отраженным излучением – 20°	от 2 000 за комплект исследований
		Измерение спектров пропускания и оптической плотности	Фурье спектрометр VERTEX 70: спектральный диапазон 400 − 10000 см–1; спектральное разрешение 0,5 см–1.	от 3 000 за комплект исследований
		Измерение спектров пропускания	Регистрация спектров поглощения образцов при комнатной температуре и температуре жидкого азота в установке на базе монохроматора МДР-12 и фотоприемника S1336-SQ (Hamamatsu), спектральный диапазон измерений – 200-1100 нм	от 3 000 за комплект исследований
	Голография	Измерение дифракционных характеристик голограмм и дифракционных оптических элементов	Аппаратно-программный комплекс цифровой диагностики для объективной оценки показателей голографических элементов. Объективный контроль качества дифракционных оптических элементов и голографических элементов, применяемых для защиты ценных бумаг и документов: диапазон измерения дифракционной эффективности: 0,1 – 100 %, период контролируемых дифракционных решеток: 0,5 – 3 мкм. пространственное разрешение системы регистрации: 70 мкм.	от 3 000 за комплект исследований
Оптоэлектронные свойства	Спектроскопия	Спектроскопия фотопроводимости	Регистрация спектров фотопроводимости образцов при температурах от 20 до 300 °С в установке на базе монохроматора МДР‑12, возбуждение излучением ксеноновой лампы, спектральный диапазон измерений – 200-800 нм	от 3 000 за комплект исследований
Оптоэлектронные свойства	Спектроскопия	Измерение спектров фотопроводимости, фототока и фотоЭДС	Спектрометр MLS 35: измерение спектров фотопроводимости, фототока и фотоЭДС фоточувствительных материалов и структур в диапазоне длин волны 190-1100 нм	от 3 000 за комплект исследований
Взаимодействие излучения с веществом	Рентгеновское излучение	Расчет и интерпретация процессов взаимодействия рентгеновского излучения с веществом	Wolfram Mathematica, C++: вычисление сечений процессов и решения кинетических уравнений	6 000 – 12 000 за комплект расчетов
	Рентгеновское излучение	Теоретическое обоснование параметров источников рентгеновского излучения с плавно перестраиваемой частотой	Wolfram Mathematica, C++: для анализа параметров материалов и ускорителей для выбора оптимальных характеристик источников	от 6 000 за комплект расчетов
	Оптическое излучение	Расчет и интерпретация процессов взаимодействия оптического излучения с веществом	Wolfram Mathematica, C++: для вычисления сечений процессов и решения кинетических уравнений	6 000 – 12 000 за комплект расчетов
	Объекты квантовой оптики	Описание характеристик объектов для квантовой оптики	Wolfram Mathematica, C++: расчеты характеристик квантовых излучателей и приемников вне рамок теории возмущений	от 6 000 за комплект расчетов
Биофизика и фармацевтика	Клеточная культура	Культивирование клеток различных линий	Используется для лабораторной диагностики вирусных инфекций, решения научно-исследовательских задач в области медицины, клеточной и молекулярной биологии, биотехнологии. Выпускается в виде взвеси (250-300 тыс. клеток/мл) в ростовой среде ДМЕМ или МЕМ, содержащей 10% сыворотки эмбрионов крупного рогатого скота.	от 3 000 за 100 млн.кл
	Тестирование препаратов	Тестирование противоопухолевых фармакологических препаратов	Исследование влияния разрабатываемых противоопухолевых фармакологических препаратов с применением клеточных тест-систем. Тесты включают проведение комплекса биофизических исследований (пролиферативная активность, жизнедеятельность, редокс-свойства мембранный потенциал, кальциевая сигнализация) на двух популяциях опухолевой клеточной линии, различающиеся резистентностью к противоопухолевым агентам.	от 12 000 за комплект исследований
		Тестирование нейротропных фармакологических препаратов	Исследование влияния разрабатываемых нейротропных фармакологических препаратов с применением клеточных и тканевых тест-систем. Тесты включают проведение комплекса электрофизиологических измерений на срезах мозга и с применением нейросенсоров, содержащих сформированные методами 3D-печати трехмерные биологические нейронные сети.	от 12 000 за комплект исследований
		Тестирование антиокоагулянтных фармакологических препаратов	Исследование влияния разрабатываемых антиокоагулянтных фармакологических препаратов с применением клеточных тест-систем. Тесты включают проведение комплекса биофизических исследований (агрегация, функциональная активность, мембранный потенциал, ионные токи, кальциевая сигнализация) на тромбоцитах крови человека.	от 12 000 за комплект исследований
		Тестирование противовоспалительных фармакологических препаратов	Исследование влияния разрабатываемых противовоспалительных фармакологических препаратов с применением клеточных тест-систем. Тесты включают проведение комплекса биофизических исследований (функциональная активность, нетоз, экзоцитоз, кальциевая сигнализация) на нейтрофилах крови человека.	от 12 000 за комплект исследований
Молекулярные расчеты		Анализ внутреннего вращения в молекулах с несколькими волчками	Моделирование параметров молекулярных систем с использованием программных пакетов GAMESS и ORCA; для больших амплитуд используются собственные разработки в среде Wolfram Mathematica; расчеты параметров двухатомных молекул производятся многоконфигурационными методами с привлечением комплекта ActiveSpace.	3 000 – 10 000 за комплект расчетов
		Расчеты спектрально-структурных характеристик комплексов и кластеров с водородными связями		5 000 – 10 000 за комплект расчетов
		Расчёты функций потенциальной энергии нижних электронных состояний, а также молекулярных спектроскопических постоянных и радиационных характеристик двухатомных молекул, перспективных для лазерного охлаждения		3 000 – 10 000 за комплект расчетов
Синтез	Пленки	Напыление металлических и полупроводниковых пленок	Установки ВУП‑5, ВУП‑5М: резистивное напыление, магнетронное напыление, реактивное магнетронное напыление	от 3 000 за комплект образцов
	Покрытия	Нанесение покрытий магнетронным и резистивным методами	Автоматизированная вакуумная установка для ионно-плазменного нанесения нанокомпозитных покрытий и тонких пленок HHV Auto 500: система безмасляной вакуумной откачки, обеспечивающая степень вакуума в технологической камере 5×10-7 Торр; два магнетронных иcточника на постоянном и переменном токе; система напуска технологических газов (аргон, азот); два резистивных испарителя.	от 3 000 за комплект образцов
	3D-печать	3D печать, моделирование	3D печать с использованием 3D-принтера Prusa i3	от 3 000 за комплект образцов
Обработка материалов		Препарирование планарных кристаллических образцов для растровой электронной микроскопии, включающее механическую полировку, ионную очистку	Комплекс оборудования для пробоподготовки, включающий отрезной станок Minitom: скорость вращения 110-420 об/мин; максимальный диаметр образца 40 мм; шлифовально-полировальный станок TegraPol 25; установка ионного утонения, полировки, очистки PECS 682: энергия ионов от 1 до 10 кэВ; плотность тока до 10 мА/см2; диаметр ионного пучка до 5 мм; скорость утонения для W 3 мкм/ч; Препарирование образцов осуществляется в соответствии с методиками подготовки металлографических образцов разного типа (мягких, твердых, сверхтвердых, хрупких, пластичных и т.д.) для микроскопических исследований, разработанными фирмой Struers A/S (Дания)	по запросу
		Фотолитография	Фотолитография (разрешение до 1 мкм)	по запросу
		Косые шлифы	Изготовление прецизионных косых шлифов на кремнии, ≥ 0,5 град	по запросу
		Гидрогенизация	Обработка в плазме водорода (гелия, аргона, …) при температурах 20 - 300 °С	по запросу
		Высокотемпературный отжиг	Высокотемпературный отжиг в атмосфере инертных газов (до 1200 °С)	по запросу
		Вакуумный высокотемпературный отжиг	Высокотемпературный отжиг в вакууме (до 1500 °С)	по запросу
		Ультразвуковая пайка материалов	Нанесение металлических контактов с помощью ультразвуковой пайки.	по запросу
Прочие услуги	Контроль состояния	Контроль состояния масел	Установка для анализа состояния различных видов масел (измерительная ячейка в виде коаксиального конденсатора, генератор сигнала, микроконтроллер, LCD-индикатор): в качестве исследуемых образцов могут быть использованы как технические (моторное, трансформаторное и др.), так и растительные (подсолнечное, оливковое, льняное и др.) масла. Измерения проводятся в температурном диапазоне Тизм = 20 – 120 °С. Точность определения уровня загрязнения по сравнению с чистыми образцами не менее 10%. Минимальный объем исследуемого масла Vmin = 150 мл.	от 2 000 за комплект исследований
Прочие услуги	Градуировка	Градуировка термометров сопротивления и термопар	Градуировка термометров сопротивления и термопар в диапазоне температур 1,7–300К с точностью до 0,05К.	от 1 500 за комплект услуг

* Ориентировочная стоимость приведена на основании имеющихся данных по завершённым договорам. Реальная стоимость услуг является договорной, зависит от сложности и объёма исследований, и предоставляется после обсуждения технического задания.